| Marchio: | ZMSH |
| MOQ: | 1 |
| prezzo: | by case |
| Dettagli dell' imballaggio: | Cartoni personalizzati |
| Condizioni di pagamento: | T/T |
Il wafer da 12 pollici in carburo di silicio (SiC) rappresenta la prossima generazione di substrati semiconduttori a banda larga, progettati per supportare la produzione su larga scala di dispositivi elettronici di potenza ad alte prestazioni. Rispetto ai wafer SiC convenzionali da 6 e 8 pollici, il formato da 12 pollici aumenta significativamente l'area utilizzabile del chip per wafer, migliora l'efficienza di produzione e offre un forte potenziale per la riduzione dei costi a lungo termine.
Il carburo di silicio è un materiale semiconduttore a banda larga con elevata rigidità dielettrica, eccellente conducibilità termica, elevata velocità di deriva degli elettroni saturi e straordinaria stabilità termica. Queste proprietà rendono i wafer SiC da 12 pollici una piattaforma ideale per applicazioni ad alta tensione, alta potenza e alta temperatura.
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Materiale: Carburo di silicio (SiC) monocristallino
Politipo: 4H-SiC (standard per dispositivi di potenza)
Tipo di conducibilità:
Tipo N (drogato con azoto)
Semi-isolante (personalizzabile)
La crescita di cristalli singoli SiC da 12 pollici richiede un controllo avanzato dei gradienti di temperatura, della distribuzione delle sollecitazioni e dell'incorporazione di impurità. La tecnologia di crescita dei cristalli PVT (Physical Vapor Transport) migliorata viene tipicamente impiegata per ottenere lingotti SiC di grande diametro e a basso difetto.
La produzione di wafer SiC da 12 pollici prevede una serie di processi di alta precisione:
Crescita di cristalli singoli di grande diametro
Orientamento dei cristalli e taglio dell'ingotto
Rettifica di precisione e assottigliamento del wafer
Lucidatura su un lato o su entrambi i lati
Pulizia avanzata e ispezione completa
Ogni fase è strettamente controllata per garantire un'eccellente planarità, uniformità dello spessore e qualità della superficie.
Maggiore resa dei dispositivi per wafer: Dimensioni del wafer più grandi consentono più chip per ciclo
Maggiore efficienza di produzione: Ottimizzato per le fabbriche di prossima generazione
Potenziale di riduzione dei costi: Costo inferiore per dispositivo nella produzione di grandi volumi
Prestazioni termiche ed elettriche superiori: Ideale per condizioni operative difficili
Forte compatibilità di processo: Adatto per la fabbricazione di dispositivi di potenza SiC tradizionali
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Veicoli elettrici (SiC MOSFET, diodi SiC Schottky)
Caricabatterie di bordo (OBC) e inverter di trazione
Infrastruttura di ricarica rapida e moduli di alimentazione
Inverter solari e sistemi di accumulo di energia
Azionamenti per motori industriali e sistemi ferroviari
Elettronica di potenza di fascia alta e applicazioni di difesa
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| Articolo | Tipo NGrado di produzione (P) | Tipo NGrado fittizio (D) | Tipo SI Grado di produzione (P) |
|---|---|---|---|
| Politipo | 4H | 4H | 4H |
| Tipo di drogaggio | Tipo N | Tipo N | / |
| Diametro | 300 ± 0,5 mm | 300 ± 0,5 mm | 300 ± 0,5 mm |
| Spessore | Verde: 600 ± 100 µm / Bianco-trasparente: 700 ± 100 µm | Verde: 600 ± 100 µm / Bianco-trasparente: 700 ± 100 µm | Verde: 600 ± 100 µm / Bianco-trasparente: 700 ± 100 µm |
| Orientamento della superficie (Off-cut) | 4° verso ± 0,5° |
4° verso ± 0,5° |
4° verso ± 0,5° |
| ID wafer / Piano primario | Intaglio (wafer a tutto tondo) | Intaglio (wafer a tutto tondo) | Intaglio (wafer a tutto tondo) |
| Profondità dell'intaglio | 1,0 – 1,5 mm | 1,0 – 1,5 mm | 1,0 – 1,5 mm |
| TTV (Variazione dello spessore totale) | ≤ 10 µm | NA | ≤ 10 µm |
| MPD (Densità dei micropipetti) | ≤ 5 ea/cm² | NA | ≤ 5 ea/cm² |
| Resistività | Zona di misurazione:Area centrale da 8 pollici | Zona di misurazione:Area centrale da 8 pollici | Zona di misurazione:Area centrale da 8 pollici |
| Trattamento della superficie Si-face | CMP (Lucidato) | Rettifica | CMP (Lucidato) |
| Lavorazione dei bordi | Smusso | Nessuno smusso | Smusso |
| Scheggiature dei bordi (consentite) | Profondità scheggiatura< 0,5 mm | Profondità scheggiatura< 1,0 mm | Profondità scheggiatura< 0,5 mm |
| Marcatura laser | Marcatura lato C / In base alle esigenze del cliente | Marcatura lato C / In base alle esigenze del cliente | Marcatura lato C / In base alle esigenze del cliente |
| Area politipo (luce polarizzata) | Nessun politipo (esclusione dei bordi 3 mm) | Area polimorfismo< 5% (esclusione dei bordi 3 mm) | Nessun politipo (esclusione dei bordi 3 mm) |
| Fessure (luce ad alta intensità) | Nessuna fessura (esclusione dei bordi 3 mm) | Nessuna fessura (esclusione dei bordi 3 mm) | Nessuna fessura (esclusione dei bordi 3 mm) |
Q1: I wafer SiC da 12 pollici sono pronti per la produzione di massa?
A: I wafer SiC da 12 pollici sono attualmente nella fase iniziale di industrializzazione e sono in fase di valutazione attiva per la produzione pilota e di volume da parte dei principali produttori di tutto il mondo.
Q2: Quali sono i vantaggi dei wafer SiC da 12 pollici rispetto ai wafer da 8 pollici?
A: Il formato da 12 pollici aumenta significativamente la produzione di chip per wafer, migliora la produttività della fabbrica e offre vantaggi in termini di costi a lungo termine.
Q3: Le specifiche dei wafer possono essere personalizzate?
A: Sì, parametri come il tipo di conducibilità, lo spessore, il metodo di lucidatura e il grado di ispezione possono essere personalizzati.