3C-N tipo Wafer di carburo di silicio 2 pollici 4 pollici 6 pollici O 5 * 5 10 * 10 mm Dimensione di produzione di grado di ricerca
Dettagli:
Luogo di origine: | Cina |
Marca: | ZMSH |
Termini di pagamento e spedizione:
Tempi di consegna: | 2-4weeks |
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Termini di pagamento: | T/T |
Informazioni dettagliate |
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Diametro: | 5*5mm±0.2mm & 10*10mm±0.2mm 2 pollici 4 pollici 6 pollici | Spessore: | 350 μm±25 μm |
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Resistenza 3C-N: | ≤ 0,8 mΩ•cm | Lunghezza piana primaria: | 150,9 mm ± 1,7 mm |
Lunghezza piana secondaria: | 80,0 mm ±1,7 mm | Esclusione del bordo: | 3 mm |
TTV/Bow/Warp: | ≤ 2,5 μm/≤ 5 μm/≤ 15 | Roverezza: | Ra≤1 nm CMP Ra≤0,2 nm |
La superficie del silicio è graffiata dalla luce ad alta intensità: | 3 graffi a 1 × lunghezza cumulativa del diametro del wafer | ||
Evidenziare: | wafer del carburo di silicio 4inch,Wafer di carburo di silicio da 6 pollici,Wafer in carburo di silicio di grado di ricerca |
Descrizione di prodotto
Wafer in carburo di silicio tipo 3C-N da 2 pollici 4 pollici 6 pollici o dimensioni 5 * 5 e 10 * 10 mm, grado di produzione Grado di ricerca
Descrizione dei wafer in carburo di silicio tipo 3C-N
Wafer di carburo di silicio (SiC) di tipo 3C-Nsono una variazione specifica dei wafer SiC che utilizzano il politipo cubico 3C. Conosciuti per le loro eccezionali proprietà termiche, elettriche e meccaniche, questi wafer sono progettati per soddisfare i severi requisiti delle tecnologie avanzate nei settori dell'elettronica, dell'optoelettronica e dei dispositivi di potenza.
ILPolitipo 3Cpresenta una struttura cristallina cubica, che offre numerosi vantaggi rispetto ai politipi esagonali come 4H-SiC e 6H-SiC. Uno dei principali vantaggi del 3C-SiC è il suomaggiore mobilità degli elettroni, che lo rende ideale per applicazioni ad alta frequenza e elettronica di potenza in cui la commutazione rapida e la bassa perdita di energia sono fondamentali. Inoltre, i wafer SiC 3C-N hanno abanda proibita inferiore(circa 2,36 eV), che consente comunque loro di gestire in modo efficiente potenza e tensione elevate.
Questi wafer sono disponibili in dimensioni standard come5x5 mmE10x10 mm, con aspessore di 350 μm ± 25 μm, garantendo una compatibilità precisa per vari processi di fabbricazione dei dispositivi. Sono adatti per l'uso inad alta potenzaEdispositivi ad alta frequenza, come MOSFET, diodi Schottky e altri componenti a semiconduttore, che offrono prestazioni affidabili in condizioni estreme.
ILconduttività termicadi wafer SiC 3C-N consente un'efficiente dissipazione del calore, una caratteristica cruciale per i dispositivi che funzionano a densità di potenza elevate. Inoltre, la loro robustezza meccanica e la resistenza agli stress termici e chimici li rendono durevoli in ambienti difficili, migliorandone ulteriormente la loro applicazioneelettronica di potenza,Tecnologie AR, Esensori ad alta temperatura.
In sintesi, i wafer SiC di tipo 3C-N combinano caratteristiche elettroniche, termiche e meccaniche superiori, rendendoli essenziali per i dispositivi elettronici di prossima generazione e le applicazioni ad alte prestazioni.
Foto dei wafer in carburo di silicio tipo 3C-N
Proprietà dei wafer in carburo di silicio tipo 3C-N
Struttura cristallina:
Struttura del politipo cubico (3C), che offre una maggiore mobilità degli elettroni rispetto ai politipi SiC esagonali come 4H-SiC e 6H-SiC, rendendolo adatto per applicazioni ad alta frequenza.
Opzioni di dimensione:
Disponibile nelle dimensioni 5x5mm e 10x10mm, offrendo flessibilità per varie applicazioni.
Spessore:
Spessore controllato con precisione di 350 μm ± 25 μm, che garantisce stabilità meccanica e compatibilità con un'ampia gamma di processi di fabbricazione.
Elevata mobilità elettronica:
La struttura cristallina cubica determina un migliore trasporto degli elettroni, rendendola vantaggiosa per applicazioni ad alta velocità e a bassa perdita di energia nell'elettronica di potenza e nei dispositivi RF.
Conducibilità termica:
L'eccellente conduttività termica consente un'efficiente dissipazione del calore, fondamentale per i dispositivi che funzionano a densità di potenza elevate, aiutando a prevenire il surriscaldamento e aumentando la longevità del dispositivo.
Banda proibita:
Un gap di banda inferiore di circa 2,36 eV, adatto per applicazioni ad alta tensione e alta potenza pur mantenendo un funzionamento efficiente in ambienti estremi.
Resistenza meccanica:
I wafer SiC 3C-N presentano un'elevata durabilità meccanica, offrendo resistenza all'usura e alla deformazione, garantendo affidabilità a lungo termine in condizioni difficili.
Trasparenza ottica:
Buone proprietà ottiche, in particolare per applicazioni optoelettroniche come LED e fotorilevatori, grazie alla sua trasparenza a determinate lunghezze d'onda.
Stabilità chimica e termica:
Altamente resistente allo stress termico e chimico, che lo rende adatto all'uso in ambienti estremi come componenti elettronici e sensori ad alta temperatura.
Queste proprietà rendono i wafer SiC 3C-N ideali per un'ampia gamma di applicazioni avanzate, tra cui elettronica di potenza, dispositivi ad alta frequenza, optoelettronica e sensori.
Grafico dei dati dei wafer in carburo di silicio tipo 3C-N
晶格领域 2 英寸 SiC 晶foto产品标准
2 diametro in pollici SilicioSubstrato di carburo (SiC). Specifica
Grado 等级 |
工业级 Grado di produzione (Grado P) |
研究级 Grado di ricerca (Grado R) |
试foto级 Grado fittizio (Grado D) |
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Diametro Diametro | 50,8 mm±0,38 mm | |||||
厚度 Spessore | 350 μm±25 μm | |||||
晶片方向 Orientamento wafer | Fuori asse: 2,0°-4,0°verso [112 | 0] ± 0,5° per 4H/6H-P, Sull'asse:〈111〉± 0,5° per 3C-N | ||||
微管密度 Densità del microtubo | 0cm-2 | |||||
电阻率 ※Resistività | 4H/6H-P | ≤0,1 Ω.cm | ||||
3C-N | ≤0,8 mΩ•cm | |||||
主定位边方向 Orientamento piatto primario | 4H/6H-P | {10-10} ±5,0° | ||||
3C-N | {1-10} ±5,0° | |||||
主定位边长度 Lunghezza piana primaria | 15,9 mm±1,7 mm | |||||
次定位边长度 Lunghezza piatta secondaria | 8,0 mm±1,7 mm | |||||
次定位边方向 Orientamento piatto secondario | Silicio rivolto verso l'alto: 90° CW. da Prime piatto ±5,0° | |||||
边缘去除 Edge Exclusion | 3 mm | 3 mm | ||||
总厚度变化/弯曲度/翘曲度 TTV/Arco/Deformazione | ≤2,5 μm/≤5 μm/≤15 μm/≤30 μm | |||||
表面粗糙度※ Rugosità | Polacco Ra≤1 nm | |||||
CMP Ra ≤ 0,2 nm | ||||||
Crepe sui bordi causate da luce ad alta intensità | Nessuno | 1 consentito, ≤1 mm | ||||
六方空洞(强光灯观测) ※ Piastre esagonali con luce ad alta intensità | Area cumulativa ≤ 1% | Area cumulativa ≤ 3% | ||||
多型(强光灯观测) ※ Aree di politipo mediante luce ad alta intensità | Nessuno | Area cumulativa ≤2% | Area cumulativa ≤ 5% | |||
Si 面划痕(强光灯观测)# Graffi superficiali in silicio dovuti alla luce ad alta intensità |
3 graffi su 1×wafer lunghezza cumulativa del diametro |
5 graffi su 1×wafer lunghezza cumulativa del diametro |
8 graffi su 1×lunghezza cumulativa del diametro del wafer | |||
崩边 (强光灯观测) Edge Chips Elevata per intensità Luce luce | Nessuno | 3 consentiti, ≤0,5 mm ciascuno | 5 consentiti, ≤1 mm ciascuno | |||
硅面污染物(强光灯观测) Contaminazione della superficie del silicio ad alta intensità |
Nessuno | |||||
包装 Imballaggio | Cassetta multi-wafer o contenitore per wafer singolo |
Note:
※I limiti dei difetti si applicano all'intera superficie del wafer, ad eccezione dell'area di esclusione dei bordi. # I graffi devono essere controllati solo sulla faccia Si.
Applicazioni dei wafer in carburo di silicio tipo 3C-N
Applicazioni di wafer in carburo di silicio (SiC) di tipo 3C-N nell'industria dei semiconduttori e della microelettronica
I wafer in carburo di silicio di tipo 3C-N svolgono un ruolo cruciale nei settori dei semiconduttori e della microelettronica, offrendo proprietà uniche che migliorano le prestazioni e l'efficienza di vari dispositivi.
Elettronica di potenza:
Nell'elettronica di potenza, i wafer SiC 3C-N sono ampiamente utilizzati in dispositivi ad alta potenza comeMOSFET,Diodi Schottky, Etransistor di potenza. La loro elevata conduttività termica e mobilità degli elettroni consente a questi dispositivi di funzionare in modo efficiente a tensioni e temperature elevate riducendo al minimo le perdite di energia. Ciò rende il 3C-N SiC ideale per l'uso insistemi di conversione della potenza,veicoli elettrici (EV), Esistemi di energia rinnovabile, dove la gestione efficiente dell’energia è fondamentale.
Dispositivi ad alta frequenza:
L'eccellente mobilità degli elettroni dei wafer SiC 3C-N li rende adatti aradiofrequenza (RF)Eapplicazioni a microonde, ad esempioamplificatori,oscillatori, Efiltri. Questi wafer consentono ai dispositivi di funzionare a frequenze più elevate con una minore perdita di segnale, migliorando le prestazioni dei sistemi di comunicazione wireless, della tecnologia satellitare e dei sistemi radar.
Elettronica per alte temperature:
I wafer SiC 3C-N vengono utilizzati anche in dispositivi a semiconduttore che operano in ambienti estremi, come ad esempiosensori ad alta temperaturaEattuatori. La resistenza meccanica, la stabilità chimica e la resistenza termica del materiale consentono a questi dispositivi di funzionare in modo affidabile in settori come quello aerospaziale, automobilistico e petrolifero e del gas, dove i dispositivi devono resistere a condizioni operative difficili.
Sistemi microelettromeccanici (MEMS):
Nell'industria microelettronica vengono utilizzati wafer SiC 3C-NDispositivi MEMS, che richiedono materiali con elevata resistenza meccanica e stabilità termica. Questi dispositivi includonosensori di pressione,accelerometri, Egiroscopi, che beneficiano della durabilità e delle prestazioni del SiC a temperature e stress meccanici variabili.
Optoelettronica:
Vengono utilizzati anche wafer SiC 3C-NLED,fotorilevatorie altri dispositivi optoelettronici grazie alla loro trasparenza ottica e alla capacità di gestire l'elevata potenza, fornendo efficienti capacità di emissione di luce e rilevamento.
In sintesi, i wafer SiC di tipo 3C-N sono essenziali nei settori dei semiconduttori e della microelettronica, in particolare nelle applicazioni che richiedono prestazioni elevate, durata ed efficienza in condizioni estreme.