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Dettagli dei prodotti

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Wafer del carburo di silicio
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Substrato composito SiC conduttivo di tipo N 6 pollici per Epitaxy MBE CVD LPE

Substrato composito SiC conduttivo di tipo N 6 pollici per Epitaxy MBE CVD LPE

Marchio: ZMSH
Numero di modello: Substrato di SiC conduttivo di tipo N
MOQ: 1
Condizioni di pagamento: T/T
Informazione dettagliata
Luogo di origine:
Cina
Diametro:
150 ± 0,2 mm
Polytype:
4H
Resistenza:
0.015-0.025 ohm · cm
Spessore di strato:
≥ 0,4 μm
VUOTO:
≤ 5ea/wafer (2mm>D>0,5mm)
Roverezza frontale (Si-face):
Ra≤0,2 nm (5 μm*5 μm)
Fabbricazione di pezzi di metallo:
Nessuna
TTV:
≤3μm
Evidenziare:

Substrato SiC conduttivo di tipo N da 6 pollici

,

Sottostrato di SiC conduttivo di tipo MBE N

,

Epitaxy N-type conductive SiC substrato

Descrizione di prodotto

Substrato composito SiC conduttivo di tipo N 6 pollici per Epitaxy MBE CVD LPE

 

Astratto di substrato SiC conduttivo di tipo N

 

Questo substrato SiC conduttivo di tipo N ha un diametro di 150 mm con una precisione di ± 0,2 mm e utilizza il politipo 4H per proprietà elettriche superiori.Il substrato presenta un intervallo di resistività di 0.015 a 0.025 ohm·cm, garantendo una conduttività efficiente.Il controllo di qualità limita i vuoti a ≤ 5 per wafer, con ciascun vuoto di diametro compreso tra 0,5 mm e 2 mm. Queste caratteristiche rendono il substrato SiC ideale per applicazioni ad alte prestazioni in elettronica di potenza e dispositivi semiconduttori,fornire affidabilità ed efficienza.

 

Substrato composito SiC conduttivo di tipo N 6 pollici per Epitaxy MBE CVD LPE 0

 

Specifiche e diagramma schematico per il substrato SiC conduttivo di tipo N

 

Substrato composito SiC conduttivo di tipo N 6 pollici per Epitaxy MBE CVD LPE 1

 

Articolo 2 Specificità Articolo 2 Specificità
Diametro 150 ± 0,2 mm

Roverezza frontale (Si-face)

Ra≤0,2 nm (5 μm*5 μm)

Politipo

Resistenza

4H

0.015-0.025 ohm · cm

EdgeChip, Scratch, Crack

(ispezione visiva)

TTV

Nessuna

≤ 3 μm

Spessore dello strato di trasferimento ≥ 0,4 μm Warp. ≤ 35 μm

Non è valido

≤ 5ea/wafer (2mm>D>0,5mm)

Spessore

350 ± 25 μm

 

Proprietà del substrato SiC conduttivo di tipo N

 

 

I substrati conduttivi di carburo di silicio (SiC) di tipo N sono ampiamente utilizzati in varie applicazioni elettroniche e optoelettroniche a causa delle loro proprietà uniche.Ecco alcune proprietà chiave dei substrati SiC conduttivi di tipo N:

 

  1. Proprietà elettriche:

    • Alta mobilità elettronica:Il SiC ha un'elevata mobilità elettronica, che consente un flusso di corrente efficiente e dispositivi elettronici ad alta velocità.
    • Concentrazione bassa di vettore intrinseco:Il SiC mantiene una bassa concentrazione intrinseca di vettore anche ad alte temperature, rendendolo adatto per applicazioni ad alte temperature.
    • Alta tensione di rottura:Il SiC può resistere a forti campi elettrici senza rompersi, consentendo la fabbricazione di dispositivi ad alta tensione.
  2. Proprietà termiche:

    • Alta conduttività termica:Il SiC ha un'eccellente conduttività termica, che aiuta a dissipare il calore in modo efficiente dai dispositivi ad alta potenza.
    • Stabilità termica:Il SiC rimane stabile ad alte temperature, mantenendo la sua integrità strutturale e le sue proprietà elettroniche.
  3. Proprietà meccaniche:

    • Durezza:Il SiC è un materiale molto duro, che offre durabilità e resistenza all'usura meccanica.
    • Inerzia chimica:Il SiC è chimicamente inerte e resistente alla maggior parte degli acidi e delle basi, il che è vantaggioso per ambienti operativi difficili.
  4. Caratteristiche del doping:

    • Doping controllato di tipo N:Il SiC di tipo N è tipicamente dopato con azoto per introdurre elettroni in eccesso come portatori di carica.

Substrato composito SiC conduttivo di tipo N 6 pollici per Epitaxy MBE CVD LPE 2Substrato composito SiC conduttivo di tipo N 6 pollici per Epitaxy MBE CVD LPE 3Substrato composito SiC conduttivo di tipo N 6 pollici per Epitaxy MBE CVD LPE 4Substrato composito SiC conduttivo di tipo N 6 pollici per Epitaxy MBE CVD LPE 5

 

Foto del substrato SiC conduttivo di tipo N

 

Substrato composito SiC conduttivo di tipo N 6 pollici per Epitaxy MBE CVD LPE 6Substrato composito SiC conduttivo di tipo N 6 pollici per Epitaxy MBE CVD LPE 7

 

Domande e risposte

 

D: Cos'è l'epitaxia del SiC?

 

A:L'epitaxia del SiC è il processo di coltivazione di uno strato sottile e cristallino di carburo di silicio (SiC) su un substrato di SiC.dove i precursori gassosi si decompongono ad alte temperature per formare lo strato di SiCLo strato epitaxiale corrisponde all'orientamento cristallino del substrato e può essere dopato e controllato con precisione per ottenere le proprietà elettriche desiderate.Questo processo è essenziale per la fabbricazione di dispositivi SiC ad alte prestazioni utilizzati nell'elettronica di potenza, optoelettronica e applicazioni ad alta frequenza, offrendo vantaggi quali elevata efficienza, stabilità termica e affidabilità.