Wafer a 1 pollici del nitruro di alluminio del diametro 50.8mm AlN dei dispositivi di BAW

Informazioni di base
Luogo di origine: La Cina
Marca: ZMKJ
Numero di modello: Monocristallo di UTI-AlN-1inch
Quantità di ordine minimo: 1PCS
Prezzo: by case
Imballaggi particolari: singolo contenitore del wafer nella stanza di pulizia
Tempi di consegna: in 30days
Termini di pagamento: T/T, Western Union, Paypal
Capacità di alimentazione: 10PCS/Month
materiale: Cristallo di AlN spessore: 400um
Orientamento: 0001 applicazione: alto potere/apparecchi elettronici ad alta frequenza
applicazione 2: dispositivi di 5G saw/BAW Ra: 0.5nm
superficie lucidata: CMP del fronte di Al, mp del N-fronte tipo di cristallo: 2H
Evidenziare:

Wafer del nitruro di alluminio di AlN

,

wafer del nitruro di alluminio di 50.8mm

,

Wafer di AlN dei dispositivi di BAW

substrato di dia50.8mm 2inch 1inch AlN/wafer monocristallo di AlN

10x10mm o diametro 10mm dia25.4mm dia30mm, dia45mm, wafer di monocristallo di AlN del substrato di dia50.8mm AlN

 

Applicazioni di   Modello di AlN
 
abbiamo sviluppato pubblicazioni periodiche dei processi e delle tecnologie privati per fabbricare
modelli di alta qualità di AlN. Attualmente, il nostro OEM è la sola società universalmente chi può produrre AlN a 2-6 pollici
modelli nella capacità su grande scala di produzione industriale con una capacità di 300.000 pezzi nel 2020 di incontrare esplosivo
richiesta del mercato dalla comunicazione senza fili UVC-LED, 5G, dai rivelatori UV e dai sensori ecc
 
Attualmente forniamo ai clienti l'azoto standardizzato di alta qualità di 10x10mm/Φ10mm/Φ15mm/Φ20mm/Φ25.4mm/Φ30mm/Φ50.8mm
Di alluminio i prodotti del substrato di monocristallo e potuto anche fornire ai clienti 10-20mm non polare
substrato di monocristallo del nitruro di alluminio dell'M.-aereo, o personalizzare 5mm-50.8mm non standard ai clienti
Substrato lucidato di monocristallo del nitruro di alluminio. Questo prodotto è ampiamente usato come materiale di qualità superiore del substrato
Utilizzato nei chip di UVC-LED, in rivelatori UV, in laser UV e nel vario alto potere
temperatura di /High/giacimento ad alta frequenza dell'apparecchio elettronico.
 
 
Specificazione caratteristica
  • Modello                                                           Cristallo di UTI-AlN-10x10B-single
  • Diametro                                                           10x10±0.5mm; o dia10mm, dia25.4mm, o dia30mm, o dia45mm;
  •  
  • Spessore del substrato (µm)                                      400 ± 50
  • Orientamento                                                        C-asse [0001] +/- 0.5°

     Qualità              S-grado (eccellente)    P-grado (produzione)       R-grado (ricerca)

 
  • Crepe                                                  Nessuno                      Nessuno <3mm>
  •                                  
  • FWHM-2θXRD@ (0002)<150><300>                  0
  • FWHM-HRXRD@ (10-12)<100><200>                 0
  • Rugosità di superficie [5×5µm] (nanometro)          CMP del Al-fronte<0>
  •  
  • Area utilizzabile                                       90%
  • Capacità di assorbimento<50>
  •                              
  • primo dell'orientamento di lunghezza                                         {10-10} ±5°;
  • TTV (µm)                                                                       ≤30
  • Arco (µm)                                                                        ≤30
  • Filo di ordito (µm)                                                                    -30~30
  • Nota: Questi risultati di caratterizzazione possono variare leggermente secondo le attrezzature e/o il software impiegati
Wafer a 1 pollici del nitruro di alluminio del diametro 50.8mm AlN dei dispositivi di BAW 0

Wafer a 1 pollici del nitruro di alluminio del diametro 50.8mm AlN dei dispositivi di BAW 1

Wafer a 1 pollici del nitruro di alluminio del diametro 50.8mm AlN dei dispositivi di BAW 2

 

Wafer a 1 pollici del nitruro di alluminio del diametro 50.8mm AlN dei dispositivi di BAW 3

Wafer a 1 pollici del nitruro di alluminio del diametro 50.8mm AlN dei dispositivi di BAW 4

 
elemento dell'impurità    Fe del Na W.P.S Ti di si B di C O
PPMW                        27 90 5,4 0,92 0,23 <0>
 
 
Sistema cristallino

Solfuro di zinco

Costante della grata (Å) a=3.112, c=4.982
Conduzione a banda Bandgap diretto
Densità (g/cm3) 3,23
Microdurezza di superficie (prova di Knoop) 800
Punto di fusione (℃) 2750 (barra 10-100 in N2)
Conducibilità termica (W/m·K) 320
Energia di intervallo di banda (eV) 6,28
Mobilità di elettrone (V·s/cm2) 1100
Campo elettrico di ripartizione (MV/cm) 11,7

Wafer a 1 pollici del nitruro di alluminio del diametro 50.8mm AlN dei dispositivi di BAW 5

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